**文章
*页 >>> **文章

NIBJ-2948A晶闸管综合参数测试仪|晶闸管参数测试系统
晶闸管综合参数测试仪产品简介：
晶闸管参数测试系统是用于测量晶闸管的通态、断态、控制常用静态参数的综合性参数测量仪器。测试原理及方法依据GB/T 15291-94《半导体器件 第六部分 晶闸管》。此系统可以快速、准确、面的对晶闸管进行参数测试和分析测试。**适合器件生产厂家、监测部门和使用厂家进行生产测试、评估、入厂检验和性分析测试。
目前对晶闸管参数的测试基本上还是采用指针式仪表和手动操作，此方法读数慢而且不够准确，操作也比较繁琐，不能适应目前自动化、大规模的生产方式。我们研制的晶闸管参数测试系统采用主从式设计，仪器采用***微控制器控制，配备大液晶显示器，可以*立工作；也可以使用PC机控制操作，使用*加方便。
晶闸管综合参数测试仪参数：
控制触发电压VGT
测量范围：0～2.5V
测量误差：≤±3%
控制触发电流IGT
测量范围：0～500mA
测量误差：≤±3%
维持电流IH
测量范围：0～500mA
测量误差：≤±3%
通态峰值电流ITM
测量范围：0～200A
测量误差：≤±5%
通态峰值电压VTM
测量范围：0～2.5V
测量误差：≤±5%
断态重复峰值电压VDRM
测量范围：0～2000V
测量误差：≤±5%
断态重复峰值电流IDRM
测量范围：0～10mA
测量误差：≤±5%
反向重复峰值电压VRRM
测量范围：0～2000V
测量误差：≤±5%
反向重复峰值电流IRRM
测量范围：0～10mA
测量误差：≤±5%
晶闸管综合参数测试仪注意事项：
1.测试结束将软件关闭，关闭机器电源，从测试盒上拔下器件。
2.器件连续测试时，中间需要间隔几秒钟。某些器件的VDRM和VRRM值较高（例如高于1000V），那么这两个参数需要单*测量，否则干扰比较大。

3.仪器如果长期闲置，请每周开机一到两次，每次半小时。士大

NIBJ-2948A晶闸管综合参数测试仪|晶闸管参数测试系统

上一篇：NICT-33C数字IC测试仪|集成电路测试仪
下一篇：NIBJ-2939半导体分立器件测试仪|分立器件综合参数测定仪