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XMTD-8高频介质损耗测试仪

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产品名称: XMTD-8高频介质损耗测试仪
产品型号: XMTD-8
产品展商: ghitest
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简单介绍

产品简介: 介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷,还有复合材料等的一项重要的物理性质,通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数(ε),可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素,为提高材料的性能提供依据;仪器的基本原理是采用高频谐振法,并提供了,通用、多用途、多量程的阻抗测试。


XMTD-8高频介质损耗测试仪  的详细介绍
产品简介:
介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷,还有复合材料等的一项重要的物理性质,通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数(ε),可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素,为提高材料的性能提供依据;仪器的基本原理是采用高频谐振法,并提供了,通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制,测量核心采用了频率数字锁定,标准频率测试点自动设定,谐振点自动搜索,Q值量程自动转换,数值显示等新技术,改进了调谐回路,使得调谐测试回路的残余电感减至蕞低,并保留了原Q表中自动稳幅等技术,使得新仪器在使用时更为方便,测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下,测量高频电感或谐振回路的Q值,电感器的电感量和分布电容量,电容器的电容量和损耗角正切值,电工材料的高频介质损耗,高频回路有效并联及串联电阻,传输线的特性阻抗等。该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。仪器遵从标准:GB/T5594.4-1985。 
技术指标:
1.Q值测量
a.Q值测量范围:5~999
b.Q值量程分档:30、100、300、999、自动换档
c.标称误差  
频率范围:25kHz~10MHz
固有误差:≤5%±满度值的2%
工作误差:≤7%±满度值的2%
频率范围:10MHz~50MHz
固有误差:≤7%±满度值的2%
工作误差:≤10%±满度值的2%
2.电感测量
测量范围:0.1μH~1H
分    档:分七个量程
0.1~1μH,1~10μH,10~100μH, 0.1~lmH,1~10mH,10~100mH,100 mH~1H
3.电容测量
测量范围:1~460pF(460pF以上的电容测量见使用规则)
电容量调节范围
主调电容器:40~500pF
准  确  度:150pF以下±1.5pF;150pF以上±1%
微调电容量:-3pF~0~+3pF
准  确  度:±0.2pF
4.振荡频率
振荡频率范围:25kHz~50MHz
频率分档:  25~74kHz,74~213kHz,213-700kHz,700kHz~1.95MHz,1.95MHz~5.2MHz,5.2MHz~17MHz,17~50MHz
频率误差:2×10-4±1个字
5.Q合格指示预置功能,预置范围:5~999
6.仪器正常工作条件
环境温度:0℃~+40℃
相对湿度:<80%
电    源:220V±22V,50Hz±2.5Hz
7.试样尺寸  圆片形:厚度2+0.5mm,直径为Φ30~40mm(ε<12时),Φ25~35mm(ε=12~30时),Φ15~20mm(ε>30时)
8.其他  
消耗功率:约25W
净    重:约7kg

外型尺寸:(l×b×h)mm:380×132×280。



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