产品资料

NIBJ-2939半导体分立器件测试仪|分立器件综合参数测定仪

如果您对该产品感兴趣的话,可以
产品名称: NIBJ-2939半导体分立器件测试仪|分立器件综合参数测定仪
产品型号: NIBJ-2939
产品展商: ghitest
产品文档: *相关文档

简单介绍

该仪器充分吸收国外测试系统的特点,采用了的嵌入式计算机和优化结构、16位并行A/D和D/A、多开尔文反馈、小信号精密测试以及阵列开关结构,并选用材料制作。在系统设计、选材、、制作、调试、校验等诸多方面与现有同类系统相比均有较大**,从而**提高了系统的性能和性。


NIBJ-2939半导体分立器件测试仪|分立器件综合参数测定仪  的详细介绍
半导体分立器件测试仪产品简介:
该仪器充分吸收国外测试系统的特点,采用了的嵌入式计算机和优化结构、16位并行A/D和D/A、多开尔文反馈、小信号精密测试以及阵列开关结构,并选用材料制作。在系统设计、选材、、制作、调试、校验等诸多方面与现有同类系统相比均有较大**,从而**提高了系统的性能和性。
其特点是侧重于中小功率器件、测试品种覆盖面广、测试精度高、电参数测试、速度快、有的重复性和**性、很高的工作稳定性和性,很强的保护系统和被测器件保护能力。系统软件功能**、使用灵活方便、操作简单。系统软件稳定、硬件故障率低,在实际测试应用中各项指标**真实达到手册要求。
系统采用方便易学的窗口菜单界面,在PC机窗口提示下,输入被测器件的测试条件,测试人员即可轻松快捷地控制系统,完成填表编程和开发测试程序、测试器件。操作人员**具备**计算机编程语言知识,使用简捷方便。3分钟即可完成一种测试编程,编写完成后输入仪器即可测试。当然还可以在仪器下直接进行器件测试程序及条件的编写,方便灵活。系统和测试夹具均采用多开尔文结构,自动补偿系统内部产生的**压降,**情况下测试结果的精度和准确性。
优良的、低廉的价格、周到的服务使得该系统在市场具有好的竞争实力。。
半导体分立器件测试仪特征:
1.采用脉冲法测试参数、脉宽可为300μS,国军标的规定采用嵌入式计算机控制,实现脱机运行
2.16位并行D/A、A/D设计,测试速度快、精度高
3.采用多开尔文,系统稳定性高,测试结果准确
4.采用三保护,系统,对被测器件*损伤
5.丰富的WINDOWS界面菜单编程和控制能力、方便的用户信息文件、统计文件方式
6.晶体三管自动NPN和PNP 判别能力,*止选错类型
7.二管性自动判别选择,用户测试二管不注意性
9.***自检/自校准能力
10.测试系统需要的其它多种数据后处理能力
半导体分立器件测试仪参数:
主电压:200V
主电流:10mA
测试速度:器件不同速度也不同
控制1电压:20V
控制1电流:10A
控制2电压:20V
控制2电流:1A
电压分辨率:1mV
电流分辨率:1nA
试器件种类
测试功能*加**,可测试八类中、小功率的半导体分立器件:
二管
稳压(齐纳)二管
晶体管(NPN型/PNP型)
可控硅整流器(普通晶闸管)
双向可控硅(双向晶闸管)
MOS场效应管(N-沟/P-沟)
结型场效应管(N-沟/P-沟,耗尽型/增强型)
光电耦合器
上述所列类别包括各中、小功率半导体分立器件及其组成的阵列、组合、表贴器件。
测试方法行业总规范、相应的标准、**器件测试标准。
提供上述**器件测试所用的不同封装形式的测试夹具和测试适配器。
可以定做**阵列、组合封装、表贴器件的测试夹具。
帮助用户开发**器件的测试程序。
漏电参数:IR、ICBO、LCEO/S、IDSS、IDOFF、IDGO、ICES、IGESF、IEBO、IGSSF、LGSSR、IGSS、IR(OPTO)
击穿参数: BVCEO   BVCES(300μS Pulse above 10mA)
BVDSS、VD、 BVCBO、VDRM、VRRM、VBB
BVR、VD+、VD-、BVDGO、BV Z、BVEBO、BVGSS
增益参数:hFE、CTR、gFS
导通参数:VCESAT、VBESAT、VBEON、 VF、VON、VDSON、VDON、VGSON、VF(Opto-Diode) 、VGSTH、VTM、VSD、IDON、VSAT、IDSS、IDON
关断参数:VGSOFF
触发参数:IGT、VGT
保持参数:IH
锁定参数:IL
混合参数:rDSON、gFS
测试盒说明:
测试盒共有五种:
1.可测二管、稳压二管;
2.可测封装为TO-92、TO-220等三个管脚在一个平面上的三端器件;
3.可测封装为TO-3及封装为F1、F2、F3、F4三端器件;
4.可测三个管脚分三角形排列,且器件壳体为小圆型的小功率三端器件;
5.可测DIP4、DIP6、DIP8封装的光电耦合器;
半导体分立器件测试仪测试夹具:
测试夹具有三根夹子线,与测试盒1配合使用,用来测试器件形状**,不能使用上述五种测试盒上的插座,则使用此三个夹子线直接夹在器件的管脚上进行测试。
半导体分立器件测试仪基本配置:
分立器件综合参数测试仪          1台
常用测试夹具                              5个
测试夹线                                     1套
半导体分立器件测试仪选用配置:
主控PC机                                   1台
其它测试夹具
产品留言
标题
联系人
联系电话
内容
验证码
点击换一张
注:1.可以使用快捷键Alt+S或Ctrl+Enter发送信息!
2.如有*要,请您留下您的详细联系方式!