高精度薄膜测厚仪产品简介: 台式薄膜测厚仪适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等**材料的厚度测量。 高精度薄膜测厚仪执行标准: 台式薄膜测厚仪GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO534、ISO 3034、DIN 53105、DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS4817 高精度薄膜测厚仪产品特点: 1.微电脑控制、液晶显示。 2.菜单式界面、PVC操作面板。 3.接触式测量。 4.测头自动升降。 5.自动进样。 6.台式薄膜测厚仪有手动、自动双重测量模式。 7.数据实时显示、自动统计。 8.显示值、值、平均值和统计偏差。 9.可设进样步距、测量点数、进样速度等参数。 10.标准接触面积、测量压力(非标可选)。 11.显示值、值、平均值和统计偏差。 12.标准量块标定。 13.RS232接口。 14.网络传输接口支持局域网数据集中管理与互联网信息传输。 高精度薄膜测厚仪指标: 测量范围:0~2mm;0~6mm;12mm(可选) 分 辨 率:0.1μm 测量压力:17.5±1kPa(薄膜);50±1kPa(纸张) 接触面积:50mm2(薄膜);200mm2(纸张) 进样步距:0~1000mm 进样速度:0.1~99.9mm/s 电 源:AC220V 50Hz 外形尺寸:461×334×357mm 净 重:32kg 高精度薄膜测厚仪标准配置:主机、标准量块一件 高精度薄膜测厚仪选购件:**软件、通信电缆、测量头、配重砝码 高精度薄膜测厚仪备注:薄膜、纸张任选一种;非标可定制。